【案例分享】新唐M054LBN进行EMC测试时RE测试结果不理想 - 知乎

问题详细描述

这是一家国内某知名医疗器械厂的项目，他们用到了新唐M054LB的单片机。在实验室测试的时候发现RE测试结果不理想，主要超标频点源可以确定是晶振引起的。

之前我们用的是12MHZ的无源晶振，在测试RE的时候发现CE在24MHZ的时候超标，RE在48MHZ的时候超标。后来更换过一次24MHZ的无源晶振，EMC测试的时候发现，CE和RE在24和48MHZ的时候超标。

在确定是晶振出的问题后，我们猜测是线路板晶振部分布线有缺陷，于是将外部晶振去掉后改为内部晶振22M（但是匹配电容并没有去掉），在EMC测试的时候发现CE测试没有问题，但是RE测试在88MHZ有尖峰出现，并且余量很小。

问题具体分析及解决方案

根据客户提供的测试报告可以看出EMC没有超标，余量最小的地方209.3M，依然有11db的余量。

客户不满意的地方，是晶振的倍频。如下图片内22M时钟，是由 LDO_CAP的1.8V供电的，干扰首先串到这个1.8V电源上，可在这里加个103电容滤掉高频，电容不能走线太长。

LDO_CAP 要近可能的靠近芯片，并且用贴片的无感电容， PCB图显示，C14用了个电解，而且有一段线， 这段线上会有22M的倍频。电解电容会有串联电感，滤不掉高频。 晶体两个引脚，也有高频，不能加过孔。

最后加了个过孔，并等效传了个小电感把问题解决了。

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创建于: 2023-04-27 14:34:41
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